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Aktuelle Pressemitteilungen

Test Universe 4.30 – Mehr Flexibilität im Bereich Sampled Values

13. Juli 2021

Unterstützung neuester Funktionen aus IEC 61869-9 und IEC 61850-9-2 Ed2.1
Die neue Version 4.30 von Test Universe, OMICRONs Prüf-Software für die parameterbasierte Prüfung von Schutzrelais, erweitert die Möglichkeiten bei der Prüfung mit Sampled Values (SV). Unterstützt werden nun konfigurierbare Datasets mit bis zu 32 Werten. Die Ausgabe der Optional Fields bietet neue Einstellungen und der Umfang wurde an die neusten Entwicklungen des IEC-Standards angepasst. Die Erzeugung von bis zu drei SV-Streams ist jetzt auch mit dem CMC 430 möglich.

Erweiterter Funktionsumfang des Client/Server Moduls
Für Prüfungen, die eine große Anzahl von binären Ausgängen verwenden oder sogar den Einsatz von mehreren ISIO 200 Geräten erfordern, werden nun auch die virtuellen binären Ausgänge unterstützt. Des Weiteren können zur Anregung der Prüflinge Control Operations ausgeführt werden. Zusätzlich wurde die Wiederverwendung von Prüfungen verbessert, Geräte lassen sich jetzt einfach umbenennen.

Neue Startseite und weitere Verbesserungen
Das überarbeitete Design der Startseite vereinfacht sowohl den Zugriff auf das OMICRON Control Center (OCC) und die Protection Testing Library (PTL) für die Durchführung automatisierter Prüfungen als auch auf die meist genutzten Prüfmodule. Die automatisierte Bewertung von Prüfergebnissen im OCC wurde für eine übersichtlichere Visualisierung um zwei Zustände ergänzt. Zusätzlich zu Verbesserungen basierend auf Kundenfeedback, wurden die Benutzerfreundlichkeit und das Testverfahren der PQ-Prüfvorlagen optimiert.

Verfügbar ab August 2021.

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