11. - 13. Juli 2023
Deutschland (Erlangen)
Deutsch
Cpuc03de
IEDScout, ISIO 200, StationScout, Test Universe, RelaySimTest, DANEO 400, CMC Produktfamilie

IEC 61850 – Systemkonfiguration und Prüfen in digitalen Schaltanlagen

11. - 13. Juli 2023
Deutschland (Erlangen)
Deutsch
Cpuc03de
IEDScout, ISIO 200, StationScout, Test Universe, RelaySimTest, DANEO 400, CMC Produktfamilie

Übersicht

Sie beherrschen bereits die Grundlagen der IEC 61850 und möchten tiefer in die Thematik eintauchen? In diesem Kurs verstehen Sie das Konzept der Systemkonfiguration auf Grundlage der Substation Configuration Language (SCL) besser und erfahren mehr über das Prüfen im Umfeld einer digitalen Schaltanlage. In Theorie und Praxis arbeiten Sie im Umfeld einer volldigitalen Schaltanlage mit IEDs verschiedener Hersteller und einer redundanten Netzwerkarchitektur für Stations- und Prozessbus mit PTP-Zeitsynchronisation. Sie erfahren, wie Sie IEC 61850-Schaltanlagen effizient prüfen können, von einzelnen IEDs bis zur gesamten Schaltanlagenkommunikation, von der Prüfung der Schutzfunktionen bis zum Schaltanlagennetz. – effizient mit OMICRON IEC 61850 Prüflösungen!

Ziele

 
  • Die Vorteile der Konfiguration der Schaltanlagenkommunikation mit der Hilfe der SCL kennenlernen
  • Verschiedene Engineering-Ansätze kennenlernen und erfahren, was eine gute SCD-Datei ausmacht
  • Substation Automation Systems (SAS) mit Hilfe der SCD-Datei der Schaltanlage effizient prüfen
  • Erstellen von Plänen für die Prüfung von IEC 61850-Schutzeinrichtungen mit GOOSE und Sampled Values
  • Die Hauptaspekte von Kommunikationsnetzen in Schaltanlagen kennenlernen und entsprechende Tests durchführen
  •  
 

Inhalt

 
  • Konfiguration und Entwicklung der Systemkommunikation auf der Grundlage der SCL
  • Top-Down- und Bottom-Up-Engineering-Ansatz
  • Umfang, Inhalt und Struktur von SCL-Dateien
  • Prüfung und Fehlersuche von Substation Automation Systems (SAS) auf der Grundlage von SCL-Dateien
  • Schutzprüfung Schritt für Schritt mit GOOSE und Sampled Values
  • IEC 61850 Test Features: Simulations- (LPHD.Sim) und Testmodus
  • Prüfung von Kommunikationsnetzwerken einer digitalen Schaltanlage
    • Netzwerkredundanz auf Basis von PRP und HSR
    • Zeitsynchronisation mit PTP
    • Netzwerkbandbreite und Laufzeiten (propagation delay)
    • Traffic-Management mit VLANs
  • Praktisches Prüfen von IEC 61850 IEDs und Systemen im Umfeld einer volldigitalen Schaltanlage
  •  
 

 

Dauer

3 Tage

Zeiten

Täglich von 08:30 - 17:00 Uhr

Information

Sie erhalten Ihre persönliche Einladung mit allen Details rund um das Training ca. zwei Wochen vor Beginn per E-Mail.

Das passende Hotel finden Sie in der Training Center Erlangen Beschreibung  oder über unser Portal beim externen Anbieter HRS www.omicronacademy.hrs.de und können es nach Wunsch buchen.

Preisdetails:
Das Training selbst, die Trainingsunterlagen, die Getränke, die Pausensnacks, das Mittagessen  sind im Preis inbegriffen.

Teilnehmerkreis

Fachpersonal von Energieversorgungs- und Industrieunternehmen, das mit der Projektplanung, Inbetriebnahme oder der Wartung von IEC 61850-basierten Systemen betraut ist.

Vorwissen

Schulung „IEC 61850 – Grundlagen und Anwendungen“ (Cpuc02de) oder vergleichbares Vorwissen zu IEC 61850

Lösungen

IEDScout, StationScout, MBX1,

RelaySimTest, DANEO 400, ISIO 200, CMC test sets, Test Universe

EUR 2.580
pro Person, exkl. USt.
Zur Anmeldung

„Es ist schön, dass die Trainer wirklich wissen wovon sie sprechen.“

Teilnehmerfeedback

Profitieren Sie von einer effizienten Mischung aus live Vorführung des Equipments, verständlich aufbereiteten theoretischen Inhalten und praktischen Messungen.

Effiziente Trainingsmethoden

Unser erfahrener Trainer geht während des Trainings auf Ihre Fragen ein. Alle Teilnehmer erhalten die Möglichkeit ihre Fragen innerhalb der Gruppe oder mit dem Trainer zu diskutieren.

Vertiefende Diskussionen

Sie erhalten  umfassende Trainingsunterlagen, um später darin nachschlagen zu können. 

Professionelle Unterlagen
Sie verwenden eine nicht unterstützte Browser-Version.
Bitte aktualisieren Sie Ihren Browser oder verwenden Sie einen anderen Browser damit diese Seite korrekt dargestellt wird.
×