Compatibilidad con las últimas funciones de IEC 61869-9 e IEC 61850-9-2 Ed2.1
La nueva versión 4.30 de Test Universe, la solución de OMICRON para pruebas de protección avanzadas basadas en los ajustes, amplía las posibilidades cuando se realizan pruebas con Sampled Values (SV). Ahora se admiten conjuntos de datos configurables de hasta 32 valores. La salida de los campos opcionales ofrece nuevos ajustes y el alcance se ha adaptado a las últimas actualizaciones de la norma IEC. La generación de hasta tres flujos de SV es ahora también posible con el dispositivo CMC 430.
Funcionalidad ampliada del módulo cliente/servidor
Para las pruebas que requieren un gran número de salidas binarias o incluso el uso de varios dispositivos ISIO 200, ahora también se admiten las salidas binarias virtuales. Además, se pueden realizar operaciones de control para la excitación de los dispositivos en prueba. Además, se ha mejorado la reutilización de las pruebas y los nombres de los dispositivos pueden ahora renombrarse fácilmente.
Nueva página de inicio y otras mejoras
El diseño revisado de la página de inicio simplifica el acceso tanto al OMICRON Control Center (OCC) como a la Biblioteca de pruebas de protección (PTL) para realizar pruebas automatizadas, así como a los módulos de prueba más utilizados. Se han añadido dos nuevos estados a la evaluación automatizada de los resultados de las pruebas en el OCC para una visualización más clara. Además de las mejoras basadas en los comentarios de los clientes, se han optimizado la facilidad de uso y el procedimiento de pruebas de las plantillas de prueba de PQ.
Disponible a partir de septiembre de 2021.