Anitkabir, Ankara, Turkey

Facts:

October 23 - 24, 2018

Divan Ankara Hotel, Ankara

Ankara

English

OMICRON Turkish User Conference

October 23 - 24, 2018

Divan Ankara Hotel, Ankara

Ankara

English


The 4th OMICRON Turkish User Conference, this time held in Divan Ankara Hotel in Ankara, brings together professionals of the power industry from all over Turkey during October 23-24, 2018.

In the course of technical presentation, case studies and live demos, participants will have the chance to exchange knowledge and best practices with international experts on topics such as protection testing, CT and VT assessment as well as data management for substation assets.

The conference will be held in Turkish and English with Turkish translation. Join us for this event by sending an e-mail to etkinlik@markeelektronik.com before October 2, 2018. 


Program overview:

October 23, 2018      Testing and data management for Protection & Measurement equipment
October 24, 2018 Testing and assessment on High Voltage assets


OMICRON Türk Kullanıcı Konferansı


Türkiye’nin dört bir yanından enerji endüstrisi profesyonellerini bir araya getirecek olan 4. Omicron Türk Kullanıcı Konferansı bu defa başkent Ankara’da 23-24 Ekim 2018 tarihlerinde Divan Ankara Otel’de gerçekleşecek.

Katılımcılar teknik sunumlar, vaka çalışmaları ve canlı demolarla koruma sistemi testleri, ölçü trafolarının değerlendirilmesi, trafo merkezi varlıkları için veri yönetimi gibi konularda en yeni uygulama ve bilgileri uluslararası uzmanlardan dinleme ve tartışma fırsatı bulacaklar.

Konferansta Türkçe ve Türkçe tercümeli İngilizce sunumlar yapılacaktır. Bu ücretsiz etkinliğe katılmak için lütfen en geç 02 Ekim 2018 tarihine kadar etkinlik​(at)​markeelektronik.com adresine katılımcı bilgilerini içeren bir email gönderiniz.


Program Genel Görünümü:

23 Ekim 2018Koruma ve Ölçme ekipmanı için test ve veri yönetimi
24 Ekim 2018Yüksek Gerilim varlıkları üzerinde test ve değerlendirme

 

 

You are using an outdated browser version.
Please upgrade your browser or use another browser to view this page correctly.
×