OMICRON Academy Online
Webinar (Zarejestrowane)
niemiecki
rWpuc09de

Schutzprüfung in digitalen Schaltanlagen

OMICRON Academy Online
Webinar (Zarejestrowane)
niemiecki
rWpuc09de

Podsumowanie

Schutzprüfungen müssen auch in der digitalen Schaltanlage durchgeführt werden! In diesem Recording erhalten Sie einen Einblick in die Prüf-Features der IEC 61850. Lernen Sie, wie CMC Prüfgeräte in IEC 61850 Umgebungen integriert werden können und sehen Sie, wie Prüfpläne für die digitale Schaltanlage auf bekannte Art und Weise mit OMICRON Test Universe erstellt werden können.

Cel szkolenia

  • Verstehen, worum es bei LPHD.Sim und dem Testmodus handelt
  • Kennenlernen eines grundsätzlichen Ablaufs für die Schutzprüfung in digitalen Schaltanlagen
  • Führung durch einen OCC Prüfplan
  •  

Treść szkolenia

  • Prüf-Features des IEC 61850 Standards
    • Simulations-Indikation LPHD.Sim
    • Testmodus
  • Prüfgeräte für die Schutzprüfung in digitalen Schaltanlagen
  • Schutzprüfung Schritt für Schritt
    • C/S Modul zur Vorbereitung von LPHD.Sim und Testmodus
    • GOOSE Konfiguration
    • SV Konfiguration
    • Schutzprüfung
  • Praktisches Beispiel eines OCC Prüfplans in Test Universe
  •  

Czas trwania

1:36 h

Informacje

Nutzen Sie bitte Ihre E-Mail ID für die Anmeldung zur Webinar-Aufzeichnung*.

Für diese Webinar-Aufzeichnung werden wir "Cisco Webex Training" verwenden.
Dieser Dienst wird durch Cisco Systems Inc. (San San Jose, California, USA) zur Verfügung gestellt um unser Training durchzuführen. Zu diese Zweck werden Ihre Anmeldedaten an Cisco weitergeleitet.

Odbiorcy szkolenia

Dies ist ein Fortgeschrittenen-Kurs. Dieser Kurs ist für jeden geeignet, der an Schutzprüfung in digitalen Schaltanlagen mit Test Universe interessiert ist.

Wymagania wstępne

Hintergrundwissen über IEC 61850 oder die Webinare “Einführung in IEC 61850” (Wpuc01), “IEC 61850 Datenmodell” (Wpuc07) und „IEC 61850 Dienste“ (Wpuc08) empfehlenswert

Rozwiązania

Test Universe

Bezpłatne
Zarejestruj się
Pliki do pobrania
You are using an outdated browser version.
Please upgrade your browser or use another browser to view this page correctly.
×