julho 8 - 9, 2025
Polónia (Sosnowiec)
Polaco
Cpuc01pl
StationScout

IEC 61850 Podstawy, aplikacje i testowanie w stacji cyfrowej

julho 8 - 9, 2025
Polónia (Sosnowiec)
Polaco
Cpuc01pl
StationScout

Sumário

Szczegółowe wprowadzenie do standardu IEC 61850 w połączeniu z sesjami teoretycznymi i praktycznymi. Praca w środowisku stacji cyfrowej z urządzeniami IED różnych producentów oraz redundantną architekturą sieci dla szyny stacyjnej i procesowej. Dowiedz się jak skutecznie testować wszystkie aspekty stacji IEC61850, tj. IED, usługi komunikacji, funkcje zabezpieczeniowe i synchronizacja czasu przy użyciu rozwiązań IEC61850 firmy OMICRON.

Obejtivos

  • Zrozumienie wszystkich części standard IEC 61850 oraz poznanie zastosowania
  • Zastosowanie usług Client/Server, GOOSE oraz Sampled Values w automatyce elektroenergetycznej
  • Poznanie korzyści przy konfigurowaniu komunikacji stacyjnej z pomocą SCL (Substation Configuration Language)
  • Uruchamianie i testy funkcjonalne urządzeń i systemów opartych na IEC 61850
  •  

Content

  • Podstawy IEC 61850
  • Modele danych i usługi 
  • Konkretne mapowanie komunikacji 
  • Podstawowe aspekty tworzenia sieci komunikacyjnych 
  • Komunikacja Client/server dla aplikacji SCADA 
  • Analiza GOOSE oraz aplikacje 
  • Podstawy Sampled Values na cyfrowej szynie procesowej
  • Konfiguracja i inżyniering w oparciu o SCL
  • Podstawowe aspekty komunikacji sieciowej
  • Analiza systemów komunikacji opartych na IEC 61850 
  • Praktyczne testowanie IED i systemów z IEC 61850 w środowisku stacji cyfrowej
  •  

Duração

2 dni

Audience

Personel techniczny zakładów elektroenergetycznych, firm zaangażowanych w projektowanie, uruchamianie lub serwisowanie systemów IEC 61850

Prerequisites

Podstawowa wiedza z zakresu elektroenergetyki

Soluções

IEDScout, StationScout
GOOSE Configuration Module, Sampled Values Configuration Module, IEC 61850 Client/Server
ISIO 200, DANEO 400
Testery CMC z adapterem Ethernet

PLN 2.800
por pessoa, exclui impostos
Registre-se agora
You are using an outdated browser version.
Please upgrade your browser or use another browser to view this page correctly.
×