Test Universe 4.30: больше гибкости в работе с Sampled Values

13. июля 2021

Поддержка новейших функций стандартов IEC 61869-9 и IEC 61850-9-2 ред. 2.1
Новая версия Test Universe 4.30, решения OMICRON для проверок уставок устройств РЗА, расширила возможности испытаний с выборочными значениями (Sampled Values, SV). В новой версии добавлена поддержка настраиваемых наборов данных (до 32 значений включительно). Для необязательных полей предусмотрены новые настройки, а диапазон необязательных полей адаптирован под новейшие изменения в стандарте IEC. При работе с CMC 430 теперь возможно генерирование до трех потоков SV.

Расширенные функциональные возможности модуля «клиент-сервер»
Для проведения испытаний с большим количеством двоичных выходов или с использованием нескольких устройств ISIO 200, в новой версии добавлена поддержка виртуальных двоичных выходов. Также для возбуждения испытуемых устройств могут выполняться операции управления. Кроме того, оптимизировано повторное использование испытаний, и упрощено переименование устройств.

Новая начальная страница и другие улучшения
Улучшенная структура начальной страницы упрощает доступ к компонентам OMICRON Control Center (OCC) и Protection Testing Library (PTL) для проведения автоматических испытаний, а также к наиболее часто используемым испытательным модулям. Для улучшения визуализации в OCC в режим автоматической оценки результатов испытаний добавлены два новых состояния. В программу были внесены усовершенствования с учетом отзывов и пожеланий клиентов, а также оптимизированы процедуры испытаний и использование шаблонов испытаний PQ.

Доступно с сентября 2021 года.

Вы используете устаревшую версию браузера.
Пожалуйста, обновите ваш браузер или используйте другой браузер, чтобы данная страница отображалась корректно.
×