정확도와 효율성을 높이기 위한 새로운 보호 기능 시험 접근 방식 #36

전력 회사의 보호 시스템에 사용되는 지능형 전자 장치(IED)의 수명 주기가 점점 짧아지고 있습니다. 또한, 이러한 장치의 펌웨어 업데이트 간격도 점점 짧아지고 있습니다.

전기 회사는 기능 요구 사항, 새로운 펌웨어의 품질, 시운전의 정확성, 매개변수 설정 등 여러 가지 매개변수를 더 빈번하게 검증해야 합니다. 따라서 보호 장치의 수명 주기 각 상에서 검증된 시험 전략에 대한 필요성이 증가하고 있습니다.

이번 에피소드에서는 OMICRON의 보호 시험 전문가인 마이클 알버트(Michael Albert)가 보호 시험 관행을 표준화하고 자동화할 때의 이점에 대해 논의합니다. 그는 표준화와 자동화가 어떻게 보호 시험의 품질을 향상시키고 시험 시간을 단축할 수 있는지 설명합니다. 또한 이를 구현하기 위한 모범 사례도 제시합니다.